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模拟电路版图的艺术(原书第3版)
字数: 1175
出版社: 机械工业
作者: (美)艾伦·黑斯廷斯(Alan Hastings)
商品条码: 9787111781202
适读年龄: 12+
版次: 1
开本: 16开
页数: 631
出版年份: 2025
印次: 1
定价:
¥169
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内容简介
本书从半导体器件物理、制造工艺到版图设计技巧,从无源元件到有源器件,从元件匹配到管芯组装,以系统化的方式讲解了模拟集成电路版图设计的各个环节。本书首先介绍了半导体器件物理、模拟集成电路的典型制造工艺,以及常见器件的失效机理;其次着重探讨了各类无源元件(包括电阻、电容和电感)的寄生效应、版图设计及匹配性问题,以及不同类型的二极管、双极型晶体管和场效应晶体管的版图设计与典型应用;最后讨论了有关器件合并、保护环、静电防护结构,以及构造焊盘、组装管芯等专题知识。
作者简介
Alan Hastings(艾伦·黑斯廷斯)毕业于美国佛罗里达大学电气工程专业,德州仪器公司院士(TI Fellow),模拟集成电路设计和版图领域的权威,在集成电路的设计、制造及可靠性分析、制造工艺、模拟电路版图设计等方面积累了深厚的理论知识和丰富的实践经验。他的研究和工作成果对模拟集成电路的发展产生了重要影响。<br />Alan Hastings不仅是一位杰出的工程师,也是一位热心的教育者。他在佛罗里达大学电气与计算机工程系设立了Alan Hastings Faculty Fellow奖学金,支持在电气工程领域有杰出贡献的教授,并多年来一直在该系的外部咨询委员会任职,为行业和学术界之间的合作与交流做出贡献。
目录
译者序<br />前言<br />致谢<br />第1章 器件物理1<br /> 1.1 半导体1<br /> 1.2 PN结9<br /> 1.3 双极型晶体管18<br /> 1.4 MOS晶体管22<br /> 1.5 结型场效应晶体管28<br /> 1.6 本章小结30<br /> 习题30<br /> 参考文献32<br />第2章 半导体制造33<br /> 2.1 硅制造工艺33<br /> 2.2 图形化35<br /> 2.3 氧化层的生长与去除37<br /> 2.4 扩散与离子注入43<br /> 2.5 硅的淀积与刻蚀48<br /> 2.6 隔离51<br /> 2.7 金属互连55<br /> 2.8 组装64<br /> 2.9 本章小结67<br /> 习题67<br /> 参考文献69<br />第3章 版图70<br /> 3.1 版图编辑器71<br /> 3.2 设计规则79<br /> 3.3 图形生成88<br /> 3.4 本章小结93<br /> 习题93<br /> 参考文献94<br />第4章 代表性工艺95<br /> 4.1 标准的双极型工艺95<br /> 4.2 多晶硅栅CMOS工艺106<br /> 4.3 模拟BiCMOS工艺119<br /> 4.4 本章小结136<br /> 习题136<br />第5章 失效机理139<br /> 5.1 电过应力139<br /> 5.2 沾污155<br /> 5.3 表面效应158<br /> 5.4 少数载流子注入175<br /> 5.5 本章小结187<br /> 习题188<br /> 参考文献190<br />第6章 电阻191<br /> 6.1 电阻率与方块电阻191<br /> 6.2 电阻的版图193<br /> 6.3 电阻值的变化195<br /> 6.4 电阻的寄生效应200<br /> 6.5 不同类型电阻的比较202<br /> 6.6 调整电阻值214<br /> 6.7 本章小结223<br /> 习题224<br /> 参考文献225<br />第7章 电容与电感226<br /> 7.1 电容226<br /> 7.2 电感247<br /> 7.3 本章小结254<br /> 习题254<br /> 参考文献256<br />第8章 电阻和电容的失配与匹配257<br /> 8.1 失配257<br /> 8.2 失配的原因259<br /> 8.3 匹配规则295<br /> 8.4 本章小结303<br /> 习题303<br /> 参考文献305<br />第9章 双极型晶体管306<br /> 9.1 双极型晶体管的工作原理307<br /> 9.2 标准双极型小信号晶体管315<br /> 9.3 CMOS与BiCMOS工艺中的小信号双极型晶体管333<br /> 9.4 本章小结348<br /> 习题348<br /> 参考文献350<br />第10章 双极型晶体管的应用351<br /> 10.1 功率双极型晶体管351<br /> 10.2 匹配双极型晶体管369<br /> 10.3 双极型晶体管匹配规则382<br /> 10.4 本章小结387<br /> 习题388<br /> 参考文献390<br />第11章 二极管391<br /> 11.1 标准双极型工艺二极管392<br /> 11.2 CMOS及BiCMOS工艺二极管404<br /> 11.3 匹配二极管414<br /> 11.4 本章小结420<br /> 习题420<br /> 参考文献421<br />第12章 场效应晶体管422<br /> 12.1 MOS晶体管工作原理422<br /> 12.2 构造CMOS晶体管435<br /> 12.3 非易失性存储器460<br /> 12.4 结型场效应晶体管467<br /> 12.5 本章小结472<br /> 习题472<br /> 参考文献474<br />第13章 MOS晶体管的应用475<br /> 13.1 功率MOS晶体管475<br /> 13.2 匹配MOS晶体管504<br /> 13.3 MOS晶体管的匹配规则522<br /> 13.4 本章小结527<br /> 习题527<br /> 参考文献529<br />第14章 专题讨论530<br /> 14.1 器件合并530<br /> 14.2 少数载流子保护环540<br /> 14.3 单层金属互连546<br /> 14.4 静电保护550<br /> 14.5 本章小结573<br /> 习题573<br /> 参考文献576<br />第15章 组装管芯577<br /> 15.1 管芯面积估算577<br /> 15.2 布图规划585<br /> 15.3 构建焊块环589<br /> 15.4 人工顶层互连599<br /> 15.5 最终版图检查608<br /> 15.6 本章小结610<br /> 习题610<br />附录612<br /> 附录A 立方晶体的米勒指数612<br /> 附录B 版图设计规则范例613<br /> 附录C 数学推导617<br /> 附录D 三分之一律628
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