科技创新中的技术性风险
- 字数: 160千字
- 装帧: 平装
- 出版社: 上海科学技术出版社
- 作者: (美)刘易斯·M·布兰斯科姆(Lewis M.Branscomb),(美)菲利普·E·奥尔斯瓦尔德(Philip e.auerswald) 著;郑月泉 译
- 出版日期: 2017-01-01
- 商品条码: 9787547832417
- 版次: 1
- 开本: 16开
- 页数: 188
- 出版年份: 2017
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