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The Kelvin probe force microscopy and its related technology with high sensitivity and high resolution

The Kelvin probe force microscopy and its related technology with high sensitivity and high resolution

  • 出版社: 清华大学出版社
  • 作者: 马宗敏著 著
  • 出版年份: 2018
  • 出版日期: 2018-01-01
  • 商品条码: 9787302539537
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