混合信号集成电路测试与测量

《混合信号集成电路测试与测量》围绕模拟与混合信号电路的测试，包括许多示例。覆盖数字电路測试，但并不是全面的，因为关于数字测试已经有了大量的资料。示例和图表由现代优选工业技术浓缩而成，全书表达生动，在考虑这种技术的应用中，介绍了大规模混合信号电路和各种电路的测试。清楚地讨论了混合信号IC测试给产品的附加利益.以及清楚地定义了测试工程师的作用。
数字和模拟功能相结合的集成电路在半导体工业已经变得越来越流行。混合信号IC测试和测量已经成为相当专业的电子工程领域。然而，与IC设计工程相比，测试工程还不为人所熟知。聘用和培训新的工程人员成为熟练的混合信号测试工程师变得相当困难。混合信号测试工程师漫长的学习过程主要是由于缺乏学习资料和大学未开设混合信号测试课程。虽然针对数字电路测试和可测试性方面已经出版了许多书籍，但是对于模拟和混合信号自动测试和测量方面的书籍还十分缺乏。
《混合信号集成电路测试与测量》是一本适用于高年级本科生和研究生以及工程技术人员的教科书。它是为了应对混合信号测试与测量基本课程教材缺乏而编写的。《混合信号集成电路测试与测量》要求读者具有坚实的模拟和数字电路基础知识，以及计算机和计算机编程的应用知识背景。数字信号处理和统计分析背景也是有用的，但不是保证的。

《混合信号集成电路测试与测量》详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法，是靠前本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。该书是根据作者多年的科研成果和教学实践，结合靠前上关注的近期新研究热点并参考大量的文献撰写的。《混合信号集成电路测试与测量》共为16章，内容包括混合信号测试概况、测试规范、直流和参数测量、测量准确性、测试仪硬件、采样理论、基于DSP的测试、模拟通道测试、采样通道测试、聚焦校准、DAC测试、ADC测试、DIB设计、可测试性设计(DtT)、数据分析和测试经济学。
《混合信号集成电路测试与测量》是面向电子工程的高年级本科生和研究生编写的，也可作为测试工程师的参考用书。《混合信号集成电路测试与测量》要求读者具有模拟和数字电路、计算机编程、线性连续时间和离散时间系统、基本概率和统计概念、数字信号处理等基础知识。

作者：(美国)MarkBurns(美国)GordonW.Roberts译者：冯建华肖钢

MarkBurns是美国德州仪器半导体公司(TI)的会士，混合信号IC测试和测量领域的有名专家。Burns由刊资助花费三年时间撰写此书，作为他的工作职责的一部分。
GordonW.Roberts目前是McGill大学电子和计算机工程系的教授。多年来，他指导学生对模拟集成电路设计和混合信号电路测试问题开辰广泛研究。他在IEEE会议发表大量论文，合作出版了几本关于混合信号测试和模拟集成电路设计的著作(包括SPICE，2／e，与AdelSedra合著，1996)和其他著作的许多章节。
冯建华，博士，副教授，北京大学微电子学系。多以来一直从事VLSI测试和可测试性设计研究和教学工作。他很近的研究兴趣专注于数字。存储器。模拟和混合信号电路测试方法。自动测试矢量生成。低功耗测试和可测试性设计(扫描。BIST。边界扫描，IDDQ测试和SOC测试)等研究工作。
肖钢，不错工程师，北京华大泰思特半导体检测技术有限公司董事。副总经理。多年来一直从事集成电路测试研究和生产工作，领导集成电路测试公司开发了许多高端SOC测试芯片，积累了丰富的测试经验。1995年获中国科学院科技进步二等奖，1998年获电子工业部科学技术进步一等奖，1999年获国家科学技术进步二等奖。

第1章混合信号测试概况.
1.1混合信号电路
1.2为什么要进行混合信号器件测试
1.3制造流程的后工艺
1.4测试和诊断设备
1.5新产品开发
1.6混合信号测试面临的挑战
习题
参考文献

第2章测试规范
2.1器件数据文件
2.2制定测试计划
2.3测试程序的组成
2.4小结
习题
参考文献

第3章直流和参数测试
3.1连接性
3.2漏电流
3.3电源电流
3.4DC参考电压和调节器
3.5阻抗测量
3.6DC偏移测量
3.7DC增益测量
3.8DC电源抑制比
3.9DC共模抑制比
3.10比较器DC测试
3.11电压搜索方法
3.12数字电路的DC测试
3.13小结
习题
参考文献

第4章测量精度
4.1术语
4.2校准和检查
4.3测量误差的处理
4.4基本数据分析
4.5小结
习题
参考文献

第5章测试仪硬件
5.1混合信号测试仪概况
5.2DC源
5.3数字子系统
5.4AC源和测量
5.5时间测量系统
5.6计算硬件
5.7小结
习题

第6章采样理论
6.1采用DSP进行模拟电路测量
6.2采样和重构
6.3重复采样集
6.4采样系统同步
6.5小结
习题
参考文献

第7章基于DSP的测试
7.1基于DSP测试的优点
7.2数字信号处理
7.3离散时间变换
7.4反向FFT
7.5小结
附录A.7.1相干采样信号的傅里叶级数表达式
习题
参考文献

第8章模拟通道测试
8.1概述
8.2增益和电乎测试
8.3相位测试
8.4失真测试
8.5信号抑制测试
8.6噪声测试
8.7模拟通道测试的模拟
8.8小结
习题
参考文献

第9章采样通道测试
9.1概述
9.2采样考虑
9.3编码和解码
9.4采样通道测试
9.5小结
习题
参考文献

第10章聚焦校准
10.1概述
10.2直流校准
10.3交流振幅校准
10.4其他的交流校准
10.5误差消除方法
10.6小结
习题

第11章DAC测试
11.1转换器测试基础
11.2基本DC测试
11.3转换曲线测试
11.4动态DAC测试
11.5DAC结构
11.6通常DAC应用的测试
11.7小结
附录A.11.1DAC特征化的MATLAB程序
习题
参考文献

第12章ADC测试
12.1ADC测试与DAC测试
12.2ADC代码边沿的测量
12.3直流测试和转换曲线测试
12.4动态ADC测试
12.5ADC结构
12.6常规ADC应用的测试
12.7小结
习题
参考文献

第13章DIB设计
13.1DIB基础
13.2印制电路板
13.3DIB引线.屏蔽和保护
13.4传输线
13.5接地和电源的分布
13.6DIB组件
13.7常见的DIB电路
13.8常见的DIB错误
13.9小结
附录A.13.1回顾：RC和RL滤波器
习题
参考文献

第14章可测试性设计
14.1概述
14.2Dfr的优点
14.3数字扫描
14.4数字BIST
14.5混合信号电路的数字DfT
14.6混合信号边界扫描和BIST
14.7adhoc混合信号电路DfT
14.8精巧的模拟电路DfT形式
14.91bm
14.10小结
附录A.14.1DfF清单
习题
参考文献

第15章数据分析
15.1数据分析简介
15.2数据可视化工具
15.3统计分析
15.4统计过程控制
15.5小结
习题
参考文献

第16章测试经济学
16.1收益因素
16.2接测试成本
16.3诊断技巧
16.4新的趋势
16.5小
习题
参考文献
部分习题答案
术语表