低功率高分辨率的A-D转换器(A-D转换.模-数转换.ADC.DFT.深亚微米CMOS)

A-D转换器是硬件电路设计常用的器件，了解和正确使用A-D转换器对科研技术人员非常重要。本书介绍了低功率、高分辨率的A-D转换器的系统结构、多步A-D转换器的设计、测试和调试，对设计和应用A-D转换芯片提供了理论和方法。

在本书中，作者概述了这些创新的有价值的例子，并给人们机会看到它们在应用于高分辨率模-数（A-D）转换器（ADC）开发时的优势。更具体地，读者可以发现本书的主要贡献在于：使用时间交织的信号处理和校准的多步A-D转换器的设计、用于这些转换器的完全可观测性和可控性的DfT（可测性设计）技术的提出和实现、可以识别过程参数变化的传感器网络的方法与设计、使用小型样本来估计过程变化的算法的建议以及用于晶片级测试的测试模式生成器的开发。

阿米尔•齐亚约(Amir Zjajo)和何塞•皮内达•德杰韦兹( José Pineda de Gyvez)都是飞利浦研究实验室以及恩智浦半导体公司研究所和大学机构在低功耗设计和测试领域的知名研究人员，他们的书和期刊出版物目前是深亚微米技术领域中理解、设计、测试和调试的不可或缺的参考。

译者序原书序缩略语表物理量符号第1章 绪论11.1 A-D转换系统11.2浅谈当前的设计与调试实践分析41.3动机71.4本书内容组成8第2章 A-D转换92.1高速、高分辨率A-D转换器架构选择92.1.1多步A-D转换器92.1.2管线A-D转换器102.1.3并行管线A-D转换器122.1.4 A-D转换器实现比较132.2低压A-D转换器设计注释162.3 A-D转换器模块212.3.1 S/H212.3.2运算放大器242.3.3锁存比较器272.4 A-D转换器：总结31第3章 多步A-D转换器的设计333.1多步A-D转换器架构333.2非理想多步A-D转换器的设计注意事项363.3时间交错的前端S/H电路393.3.1时间交错架构403.3.2 S/H单元的匹配443.3.3电路设计493.4多步A-D转换器级设计533.4.1粗略量化533.4.2精细量化583.5中间级设计和校准673.5.1子D-A转换器设计673.5.2残差放大器693.6实验结果763.7小结80第4章 多步A-D转换器的测试824.1准静态结构试验的模拟ATPG824.1.1测试策略定义834.1.2基于准静态节点电压法的线性故障模型844.1.3决策标准和测试刺激优化924.2可测性概念的设计984.2.1功率扫描链DfT1004.2.2应用实例1054.3用于BIST的片上激励的产生1134.3.1连续和离散时间电路拓扑1144.3.2连续和离散时间波形发生器的设计1234.4内置自测概念的注释1314.5深亚微米CMOS工艺的随机分析可靠电路设计1364.5.1用于过程变异性分析的随机MNA1364.5.2噪声分析的随机MNA1384.5.3应用示例1404.6小结144第5章 多步A-D转换器的调试1465.1传感器网络概念1465.1.1观察策略1475.1.2集成传感器1495.1.3决策窗口和应用限制1525.1.4 DLPM电路设计1555.1.5温度传感器1605.2模板级过程变化的估计1635.2.1预期最大化算法1635.2.2向量机限制估计器1665.3多步A-D转换器级的调试1685.3.1质量标准1685.3.2估算方法1695.4 DfT用于多步转换器的完全可访问性1735.4.1测试控制块1775.4.2模拟测试控制块1785.5时间交织系统的调试1805.6前景校准1845.7实验结果1875.7.1 A-D测试窗口生成/更新的结果应用1915.7.2 A-D转换器调试和校准的结果应用1955.8小结202第6章 结论和建议2036.1结果概述2036.2推荐和未来研究204附录 205附录A 205A.1时间不匹配205A.2偏移不匹配206A.3增益不匹配207A.4带宽不匹配207A.5一般表达式208附录B 208B.1使用正弦波的A-D转换器非线性的直方图测量208B.2均方误差210B.3测量不确定性211参考文献213