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晶体学、粉末X射线衍射与透射电子显微学基础

晶体学、粉末X射线衍射与透射电子显微学基础

  • 字数: 289000
  • 装帧: 平装
  • 出版社: 冶金工业出版社
  • 作者: (新加坡)董志力 著 潘昆明 译
  • 出版日期: 2024-06-01
  • 商品条码: 9787502499723
  • 版次: 1
  • 开本: 16开
  • 页数: 240
  • 出版年份: 2024
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精选
内容简介
本书共3部分,第1部分为晶体学简介,包括晶体与布拉维点阵的周期性,晶体的对称性、点群和空间群,倒易点阵及晶体结构表征举例;第2部分为材料的X射线衍射,包括X射线衍射的几何原理、X射线的衍射强度、实验方法与粉末X射线衍射仪、粉末X射线图谱的Rietveld精修;第3部分为材料透射电子显微学,包括电子和X射线的原子散射因子、透射电子显微镜中的电子衍射、衍射衬度和相位衬度。
本书可供晶体学、粉末X射线衍射和透镜电子显微学领域的研究人员等参考,也可作为高等院校材料科学与工程专业的教材。
目录
引言
参考文献
第1部分 晶体学简介
1晶体与布拉维点阵的周期性
1.1晶体、晶格与基元
1.2晶胞类型、晶系与布拉维点阵
1.3三方晶系中菱形晶胞与非菱形晶胞
1.4六方晶系中密勒-布拉维指数
本章小结
参考文献
2晶体的对称性、点群和空间群
2.1对称元素及表征
2.2对称元素的组合
2.3立方晶系的点群
2.432种晶体学点群和230个空间群
本章小结
参考文献
3倒易点阵
3.1倒易点阵的定义及其与晶格参数的关系
3.2倒易点阵的重要性质和相关运算
本章小结
参考文献
……

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