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互换性与测量技术基础

互换性与测量技术基础

  • 字数: 246000
  • 装帧: 平装
  • 出版社: 西安电子科技大学出版社
  • 作者: 万一品
  • 出版日期: 2024-04-01
  • 商品条码: 9787560671215
  • 版次: 1
  • 开本: 16开
  • 页数: 188
  • 出版年份: 2024
定价:¥29 销售价:登录后查看价格  ¥{{selectedSku?.salePrice}} 
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精选
内容简介
本书是为了满足“互换性与技术测量”课程少学时教学计划安排的实际需要而编写的。本书的编写结合了近年来教育改革和国家一流本科课程建设成果,采用近期新颁布的国家标准,将理论与实际应用紧密结合。
全书共6章。第1章统领全书,详细介绍了互换性与标准化等的基本概念;第2~4章从精度设计和国家标准基础知识储备出发,详细介绍了尺寸公差与配合、几何公差和表面粗糙度等相关内容;第5章详细介绍了几何特征量测量的基础内容;第6章从知识应用方面详细介绍了典型零部件的精度设计内容。
本书较为系统地介绍了互换性与测量技术的基础知识,突出基本概念,结合案例给出具体分析,并配备练习题,使学生加深对所学基础知识的理解,并学以致用。
本书可以作为高等院校机械和仪表类专业学生的教材或参考用书,也可以作为机械工程技术人员的参考用书。
目录
第1章绪论
1.1概述
1.2基本概念
1.2.1误差和公差
1.2.2互换性
1.2.3标准化与优先数系
1.2.4测量精度
1.3本课程的学习任务
小结
习题1
第2章尺寸公差与配合
2.1概述
2.2基本术语及定义
2.2.1孔和轴的尺寸
2.2.2偏差与公差的计算
2.2.3配合种类与基准制
2.3公差与配合的标准
2.3.1标准公差系列
……

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