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数字集成电路测试 理论、方法与实践

数字集成电路测试 理论、方法与实践

  • 字数: 393000
  • 装帧: 平装
  • 出版社: 清华大学出版社
  • 作者: 李华伟 等 编
  • 出版日期: 2024-06-01
  • 商品条码: 9787302662037
  • 版次: 1
  • 开本: 16开
  • 页数: 272
  • 出版年份: 2024
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精选
内容简介
本书全面介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与EDA实践。第1章为数字集成电路测试技术导论,第2~9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SoC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术,第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术,第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。
针对每一种数字集成电路测试技术,本书一方面用示例讲述其技术原理,另一方面用电子设计自动化(EDA)的商业工具对具体实例演示技术应用过程(EDA工具应用脚本及其说明可在配套资源中下载),并在每章后附有习题。通过本书,读者一方面可以学习到基本的测试理论和相关技术;另一方面,还可以对当今芯片设计流程和EDA工具链中测试技术的运用和实践有所了解。
本书适合作为高等院校集成电路、计算机科学与技术、电子科学与技术等相关专业高年级本科生、研究生教材,也可供集成电路设计与测试行业的开发人员、广大科技工作者和研究人员参考。
目录
第1章数字集成电路测试技术导论
1.1集成电路芯片开发过程中的测试问题
1.1.1超大规模集成电路芯片的开发过程
1.1.2设计验证
1.1.3芯片测试
1.2测试技术基础
1.2.1故障模型
1.2.2测试生成简介
1.2.3可测试性设计简介
1.3测试技术与EDA
1.4本章小结
1.5习题
参考文献
第2章故障模拟
2.1简介
2.1.1逻辑模拟在测试中的作用
2.1.2故障模拟在测试中的作用
2.2模拟的基本概念
……

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