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公差配合与技术测量(第2版)

公差配合与技术测量(第2版)

  • 装帧: 平装
  • 出版社: 高等教育出版社
  • 作者: 主编薛庆红, 许岚, 苗盈 著
  • 出版日期: 2024-01-01
  • 商品条码: 9787040612646
  • 版次: 2
  • 开本: 其他
  • 页数: 194
  • 出版年份: 2024
定价:¥36.8 销售价:登录后查看价格  ¥{{selectedSku?.salePrice}} 
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精选
内容简介
本书共分7章, 内容包括: 绪论, 尺寸的公差、配合与检测, 几何公差与检测, 表面粗糙度与检测, 圆锥和角度尺寸的公差与检测, 光滑极限量规设计, 常用结合件的公差与检测, 并在关键知识点配有数字化资源, 以及国家级职业教育专业教学资源库课程“几何精密测量”, 供读者在线学习。根据职业教育的目标和要求, 全书重点介绍产品几何公差的含义及测量方法, 对于几何精度设计没有过多介绍。

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