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晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例

晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例

  • 字数: 400
  • 装帧: 精装
  • 出版社: 高等教育出版社
  • 作者: 马秀良著 著
  • 出版日期: 2024-01-01
  • 商品条码: 9787040610963
  • 版次: 1
  • 开本: 其他
  • 页数: 588
  • 出版年份: 2024
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精选
内容简介
本书涵盖作者自20世纪80年代末师从郭可信先生起至近年带领研究团队在有关电子衍射方面所积累的主要实验案例, 主体 (第2-6章) 按晶体的对称性从低到高依次展开, 包括单斜、正交、四方、六方、三方、菱方、立方晶系, 涉及周期性晶体14种布拉维点阵中的13种点阵类别以及部分准晶体, 共40余种物相。

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