您好,欢迎来到聚文网。 登录 免费注册
集成电路测试原理

集成电路测试原理

  • 字数: 311000
  • 装帧: 平装
  • 出版社: 电子科技大学出版社
  • 出版日期: 2023-04-01
  • 商品条码: 9787577001630
  • 版次: 1
  • 开本: 16开
  • 页数: 212
  • 出版年份: 2023
定价:¥68 销售价:登录后查看价格  ¥{{selectedSku?.salePrice}} 
库存: {{selectedSku?.stock}} 库存充足
{{item.title}}:
{{its.name}}
精选
内容简介
《集成电路测试原理》由戴志坚,王厚军主编
目录
第一章集成电路测试技术概述
1.1集成电路测试技术基本原理
1.2集成电路测试过程
1.3集成电路测试分类
1.4集成电路测试的发展及挑战
第二章直流参数及模拟集成电路测试
2.1连接性测试
2.2常规直流参数测试
2.3模拟集成电路的直流参数测试
2.4集成运算放大器参数测试
2.5电源集成电路参数测试
2.6数字集成电路直流参数测试
第三章数字集成电路测试
3.1概述
3.2数字集成电路测试
3.3数字集成电路测试技术发展
第四章混合信号集成电路测试
4.1概述
……

蜀ICP备2024047804号

Copyright 版权所有 © jvwen.com 聚文网