无机非金属材料研究方法(第2版)

1 绪论
1.1 材料结构及其层次
1.2 研究方法的种类
1.2.1 图像分析法
1.2.2 非图像分析法
2 光学显微分析
2.1 晶体光学基础
2.1.1 可见光的一般知识
2.1.2 光性均质体和光性非均质体
2.1.3 光率体
2.1.4 光性方位
2.2 偏光显微镜及薄片的制备
2.2.1 偏光显微镜的构造
2.2.2 偏光显微镜的调节和校正
2.2.3 偏光显微镜研究试样的制备
2.3 偏光显微镜下矿物的光学性质
2.3.1 单偏光系统下矿物的光学性质
2.3.2 正交偏光系统下矿物的光学性质
2.3.3 聚敛偏光系统下矿物的光学性质
2.4 反光显微镜光片研究
2.4.1 反射光学基础
2.4.2 反光显微镜
2.4.3 反光显微镜试样的制备
2.4.4 反射光下矿物的光学性质
习题与思考题
3 X射线衍射分析
3.1 X射线的物理基础
3.1.1 X射线的本质
3.1.2 X射线的强度
3.1.3 X射线的产生
3.1.4 X射线的性质
3.1.5 X射线谱
3.1.6 X射线与物质的相互作用
3.2 X射线衍射的几何条件
3.2.1 劳埃方程
3.2.2 布拉格方程
3.2.3 厄瓦尔德图解
3.3 X射线衍射强度
3.3.1 一个电子对X射线的散射强度
3.3.2 一个原子对X射线的散射强度
3.3.3 一个晶胞对X射线的散射强度
3.3.4 一个小晶体对X射线的散射强度和衍射积分强度
3.3.5 粉末多晶的衍射积分强度
3.3.6 影响衍射强度的其他因素
3.4 X射线衍射方法
3.4.1 单晶体衍射方法
3.4.2 多晶体衍射方法
3.5 物相分析
3.5.1 物相定性分析
3.5.2 物相定量分析
3.6 X射线衍射技术在其他方面的应用
3.6.1 点阵常数的准确测定
3.6.2 晶粒尺寸的测定
3.6.3 残余应力的测定
3.6.4 单晶取向的测定
习题与思考题
4 电子显微分析
4.1 电子光学基础
4.1.1 电子的波动性和电子波长
4.1.2 电子透镜
4.1.3 电磁透镜的像差和分辨率
4.1.4 电磁透镜的场深和焦深
4.2 透射电子显微分析
4.2.1 透射电镜的工作原理
4.2.2 透射电镜的结构
4.2.3 电子衍射
4.2.4 透射电镜的成像操作
4.2.5 透射电镜的主要性能
4.2.6 透射电镜的像衬度
4.2.7 透射电镜样品的制备
4.3 扫描电子显微分析
4.3.1 扫描电镜的工作原理
4.3.2 扫描电镜成像的物理信号
4.3.3 扫描电镜的结构
4.3.4 扫描电镜的主要性能
4.3.5 扫描电镜的像衬度
4.3.6 扫描电镜样品的制备
4.4 电子探针X射线显微分析
4.4.1 电子探针的工作原理和结构
4.4.2 X射线谱仪
4.4.3 电子探针的分析方法
4.5 电镜的近期发展
4.5.1 扫描透射电镜
4.5.2 高分辨透射电镜
4.5.3 超高压电镜
4.5.4 分析电镜
4.5.5 低真空扫描电镜
4.5.6 低电压扫描电镜
4.5.7 冷冻电镜
习题与思考题
5 热分析
5.1 概述
5.1.1 热分析的术语定义与分类
5.1.2 热分析的测定方法
5.1.3 热分析的应用
5.2 差热分析
5.2.1 差热分析的基本原理
5.2.2 差热分析仪
5.2.3 差热曲线的分析及影响因素
5.2.4 差热分析的应用
5.3 差示扫描量热分析
5.3.1 基本原理与差示扫描量热仪
5.3.2 差示扫描量热曲线
5.3.3 差示扫描量热曲线的影响因素
5.3.4 差示扫描量热法的应用
5.4 热重分析
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