坐标测量技术 原书第2版

随着我国制造业的转型升级和智能制造的发展，测量技术的作用越来越重要。本书由德国埃尔兰根-纽伦堡大学阿尔伯特·韦克曼(Albert Weckenmann)教授等专家著写而成，书中详细介绍了坐标测量技术，包括测量任务,测量原则和设备技术,用于坐标测量的传感器，优选仪器仪表工程学基础，由设计图经检验计划再到检测计划，由检测计划经编程、执行和评定直至测量结果表示,特殊的测量任务，测量不确定度和测量值的可回溯性,测量经济性,以及测量培训等内容。本书既可作为坐标测量技术的综合性入门专业书和参考书，也可作为坐标测量等相关专业的教材和参考书。

阿尔伯特·韦克曼，教授，博士，工程师。埃尔兰根-纽伦堡大学质量管理和加工测量技术教席教授，在坐标测量技术领域拥有逾30年的坐标测量技术科研经历。

序自首台计算机辅助坐标测量机出现以来，坐标测量技术的发展经历了从单纯的两点测量到带补偿的多点测量的转变，加工测量技术也因此发生了根本性的改变。坐标测量技术诞生于20世纪70年代，本书第1版出版于1999年，从那时起与加工技术相关的测量技术不仅在工件几何尺寸和几何形状的测量方面，而且在仪器设备及其应用方面，特别是光学和计算机断层扫描技术及传感器技术方面获得了极大的进展和变化。随着电子元件的微型化，信息和通信技术也同时经历了爆炸式的发展，这也促进了新测量方案的设备研发。与此同时，测量技术在应用广度、几何尺寸大小、测量速度、表面采样密度和测量不确定度上也发生了很大的变化，在GPS（产品几何技术规范）中，统一地定义和描述了工件多变的形状、尺寸和表面特征。总体来说，如今的坐标测量机除了基本原理以外都和第一代接近不同了。故而，需要更进一步地审视这些新技术，把这些变化和新的解决方案用实践的眼光去评估，去仔细分析并了解它们新的应用范围。本书基本保留了第1版的主题，并补充了坐标测量技术中一些重要的传感器技术（如激光跟踪仪、计算机断层扫描和多传感器测量技术），此外还增加了适合于坐标测量技术培训的内容。由于测量系统复杂性的增加、测量任务范围的扩大、对物理特性间相互影响深入的了解、新增的一些检测原理和对测量精度要求的提高以及应用可能性的扩展等原因，本书的相关内容交由在坐标测量技术领域内的知名专家来编写。有经验的测量工程师会在本书中发现很多有名专家的名字，这保证了本书内容的正确性、专业性和权威性。本书可应用于：1.需要更多地了解坐标测量技术和需要更好地了解测量结果实现过程的测量工作从业者。2.生产企业非测量领域但需要根据测量结果做出决策的专业人员。3.需要确定测量的尺寸、公差，并且需要考虑其相互作用以及验证细节问题的设计工程师。4.想学习坐标测量技术的大学生或其他感兴趣者。本书可作为坐标测量技术综合性介绍的入门专业书和参考书。感谢对本书出版做出贡献的所有作者。我在审阅过程中考虑了所有作者提出的重要意见，并且采纳了其中绝大多数意见。由于本书由不同的作者共同完成，虽然审阅统稿时已非常仔细，但仍存在不一致的地方，读者们可以把它们看作是可接受的技术多样性表达。特别感谢我的同事Laura Shaw和Philipp Krmer，感谢他们在校订稿件细节和处理书稿时付出的努力。衷心地感谢提供给我们信息、图片和草图的企业、组织和个人。封面是Ingrid Gaus女士根据出版社的总体设想而设计的，感谢她,她的努力提高了本书的吸引力。最后感谢Carl Hanser出版社，感谢Volker Herzberg先生在本书多次延迟交稿时所保持的耐心和友好的合作。