X射线衍射理论与实践(2)

《X射线衍射理论与实践》(Ⅱ)包括X射线衍射分析的3个专题应用和Rietveld全谱拟合精修方法。
专题应用包括：宏观内应力的测量(第1章)、织构的测定与分析(第2章)和非晶态物质的X射线衍射分析(第6章)。每个专题应用都包括4个环节：从基础理论开始，导出实验原理和实验方法，最后结合科研需要，通过应用实例讲解，进行操作技能培训，并且通过课堂讨论问题、思考计算和实践操练对相关专题进行总结、归纳和技能提升。
针对Rietveld全谱拟合精修方法，第3章详细阐述了Rietveld方法的基本原理和数学基础；第4章和第5章以Jade和Maud两种智能化精修软件为工具，提出了Rietveld方法在多晶材料中的各种具体应用方法。本书中重点内容和案例配有讲解视频，可扫码观看。本书同时配课件，教师可申请下载作为参考。
《X射线衍射理论与实践》(Ⅱ)中的内容和应用实例涵盖金属材料、无机非金属材料、高分子材料、化学、化工、物理、地质、矿冶工程等学科领域，可作为这些专业本科生、研究生的教学用书，对从事X射线衍射工作的技术人员和科研工作者也是很好的参考工具书。

第1章宏观内应力的测量1
1.1内应力1
1.2基本原理3
1.3测试技术6
1.4实验方法9
1.5应用12
1.5.1测量铝合金抛丸处理后表面的残余应力12
1.5.2轴承钢沿深度方向的残余应力分布16
1.6讨论与实践17
第2章织构的测定与分析19
2.1织构及其分类19
2.2织构材料的衍射几何特征21
2.3织构的表示方法22
2.4直接极图23
2.4.1极图的定义23
2.4.2极图的测绘26
2.4.3组合试样法测绘完整极图30
2.4.4极图分析31
2.5反极图32
2.5.1反极图的生成32
2.5.2反极图的测绘方法33
2.5.3反极图的分析方法36
2.6取向分布函数37
2.6.1取向分布函数的计算37
2.6.2取向分布函数的分析40
2.7织构测量的应用43
2.8讨论与实践53
第3章Rietveld全谱拟合方法54
3.1Rietveld结构精修原理54
3.1.1X射线衍射谱的组成54
3.1.2Rietveld方法的基本原理55
3.2计算谱的构成57
3.2.1晶体结构57
3.2.2其他参数58
3.2.3计算谱的合成61
3.3Rietveld精修顺序61
3.3.1精修参数的分类61
3.3.2精修参数的选择62
3.3.3参数放开的顺序62
3.4精修指标63
3.4.1精修指标63
3.4.2残差图示64
3.4.3精修过程中可能出现的问题65
3.5精修的应用67
3.6Rietveld精修软件70
3.7讨论与实践71
第4章Rietveld精修实战（Jade）72
4.1Jade全谱拟合功能特色72
4.2精修流程73
4.3物相的读入78
4.4精修参数设置80
4.5全局变量精修82
4.6物相参数精修84
4.7晶体结构精修87
4.8精修显示与结果输出88
4.9Rietveld精修的应用90
4.9.1定量分析90
4.9.2晶胞参数精修101
4.9.3微结构与织构精修104
4.9.4晶体结构精修109
4.9.5Rietveld在物相检索中的应用114
4.10讨论与实践117
第5章Rietveld精修实战（Maud）118
5.1Maud的功能与安装118
5.2基本操作界面120
5.3简单精修126
5.4含非晶相的定量分析方法137
5.5仪器参数设置143
5.6含织构样品的定量分析148
第6章非晶态物质结构的X射线衍射分析153
6.1非晶态物质结构的主要特征153
6.2非晶态结构的径向分布函数154
6.2.1单一品种原子的径向分布函数154
6.2.2多元非晶态结构的径向分布函数156
6.3实验与数据处理158
6.3.1衍射强度分布IM（2θ）的测量158
6.3.2数据处理158
6.4应用160
练习参考答案165
附录175
附录1点群、空间群和劳厄群的符号和关系175
附录2应力测定常数181
参考文献183