二维X射线衍射(原著第2版)(精)

二维X射线衍射领域权 威著作，系统地介绍二维衍射的原理、实验方法、应用技术及应用领域

本书系统地介绍了二维X射线衍射的原理、实验方法、应用技术及应用领域。内容涵盖X射线光源、二维探测器、测角仪和光路，以及衍射数据处理与解析（物相定性、微观结构分析、残余应力分析、织构分析、结晶度测量、薄膜分析、小角散射等），并给出了很多优选材料和药物等的具体分析实例，如用于检查各种样品，包括金属、聚合物、陶瓷、半导体、薄膜、涂料、生物材料、复合材料等。 本书可供材料、化学、物理、药学等专业研究人员，从事X射线衍射结构表征相关的研究生、检测人员、技术人员等参考阅读。

Bob B. He（贺保平）博士现任布鲁克公司创新及二维衍射业务发展总监，并担任印度理工学院的杰出访问教授。主要从事X射线衍射仪及应用开发，在二维衍射领域具有较高造诣。申请或授权17项美国发明专利及相应的欧盟国家专利，获两项R&D 100美国科技创新奖——美国科技界的“奥斯卡”奖，发表30篇以上相关论文，出版英文专著《二维X射线衍射》（第1、2版），合著《国际晶体学手册H集》第2章，参与制定欧洲残余应力标准。 程国峰，中国科学院上海硅酸盐研究所，课题组长、高级工程师，硕士生导师，中国科学院上海硅酸盐研究所 X射线衍射结构表征课题组组长。主要研究领域为X射线衍射与散射理论及应用，多铁性与磁电耦合物理及材料制备等。曾先后主持国家自然科学基金、上海市科委基础研究重点项目、上海市科委标准化项目、中国科学院仪器创新、上海硅酸盐所创新等项目6项，主编出版《纳米材料的X射线分析》、《同步辐射X射线应用技术基础》专著2部，发布国家标准1项、企业标准1项，获专利授权2项，在Nat. Mater.,J. Appl. Phys.，Mater. Lett.等SCI期刊上发表论文70余篇。现任中国晶体学会粉末衍射专业委员会委员，中国物理学会固体缺陷专业委员会委员、上海市物理学会X射线衍射与同步辐射专业委员会秘书长。

第1章 绪论
1.1 X射线技术简史
1.2 晶体几何学
1.2.1 晶格和对称性
1.2.2 晶向和晶面
1.2.3 原子在晶体中的排列
1.2.4 晶体结构缺陷
1.3 X射线衍射原理
1.3.1 布拉格定律
1.3.2 衍射图谱
1.4 倒易空间及衍射
1.4.1 倒易点阵
1.4.2 厄瓦尔德球
1.4.3 衍射锥和衍射矢量锥
1.5 二维X射线衍射
1.5.1 由面探测器测量的衍射图
1.5.2 利用二维衍射图进行材料表征
1.5.3 二维X射线衍射系统及其部件
1.5.4 小结
参考文献
第2章 衍射几何和基本原理
2.1 引言
2.1.1 二维衍射与传统衍射的比较
2.2 衍射空间和实验室坐标系
2.2.1 实验室坐标系下的衍射圆锥
2.2.2 实验室坐标系下的衍射矢量圆锥
2.3 探测器空间和探测器几何
2.3.1 三维空间衍射花样的理想探测器
2.3.2 衍射圆锥及其与平板二维探测器的锥截面
2.3.3 探测器位置
2.3.4 衍射空间中的像素位置——平板探测器
2.3.5 衍射空间的像素位置——不在衍射仪平面的平板探测器
2.3.6 衍射空间的像素位置——柱面探测器
2.4 样品空间和测角仪几何
2.4.1 欧拉几何中样品的旋转和平移
2.4.2 测角仪几何的变体
2.5 从衍射空间向样品空间的转换
2.6 倒易空间
2.7 小结
参考文献
第3章 X射线光源及光学部件
3.1 X射线的产生及特征
3.1.1 X射线谱及特征谱线
3.1.2 靶面焦点与取出角
3.1.3 靶面焦点亮度与形状
3.1.4 吸收和荧光
3.1.5 同步辐射
3.2 X射线光学部件
3.2.1 刘维尔（Liouville）定理与基本原理
3.2.2 传统衍射仪中的X射线光学部件
3.2.3 二维衍射仪中的X射线光学部件
3.2.4 β滤波片
3.2.5 晶体单色器
3.2.6 多层膜反射镜
3.2.7 针孔准直器
3.2.8 毛细管光学部件
参考文献
第4章 X射线探测器
4.1 X射线探测技术
4.2 常规衍射仪中的点探测器
4.2.1 正比计数器
4.2.2 闪烁计数器
4.2.3 固体探测器
4.3 点探测器的特点
4.3.1 计数统计
4.3.2 探测量子效率和能量范围
4.3.3 探测器线性度和*计数率
4.3.4 能量分辨率
4.3.5 检测限和动态范围
4.4 线探测器
4.4.1 线探测器几何形状
4.4.2 线探测器的种类
4.4.3 线探测器的特征参数
4.5 面探测器的特征参数
4.5.1 有效面积和角度覆盖范围
4.5.2 重量和尺寸
4.5.3 像素角度覆盖范围
4.5.4 面探测器的空间分辨率
4.5.5 像素数目和角度分辨率
4.5.6 二维衍射仪的角度分辨率
4.6 面探测器的类型
4.6.1 多丝正比（MWPC）探测器
4.6.2 影像板（IP）
4.6.3 电荷耦合（CCD）探测器
4.6.4 互补金属氧化物半导体（CMOS）探测器
4.6.5 像素阵列（PAD）探测器
4.6.6 电荷积分像素阵列（CPAD）探测器
4.6.7 微隙探测器
4.6.8 面探测器的比较
参考文献
第5章 测角仪和样品台
5.1 测角仪和样品位置
5.1.1 引言
5.1.2 二圆测角仪
5.1.3 样品台
5.1.4 测角仪轴序列
5.2 测角仪精度
5.2.1 误差球
5.2.2 角度准确度和精度
5.3 样品校准和可视化系统
5.4 环境样品台
5.4.1 圆顶式高温台
5.4.2 变温样品台校准
参考文献
第6章 数据处理
6.1 引言
6.2 非均匀响应校正
6.2.1 校正源
6.2.2 非均匀响应的校正算法
6.3 空间校正
6.3.1 基准板与探测器平面
6.3.2 空间校正算法
6.4 探测器位置精度及校正
6.4.1 探测器位置公差
6.4.2 探测器位置校准
6.4.3 利用衍射环进行探测器旋转校准
6.4.4 衍射锥的交点
6.5 帧积分
6.5.1 帧积分的定义
6.5.2 帧积分算法——平面图像
6.5.3 帧积分算法——柱面图像
6.6 多帧合并
6.6.1 合并多帧
6.6.2 平面二维帧的柱面投影
6.6.3 重叠区域合并
6.7 二维扫描图像
6.8 洛伦兹、偏振和吸收校正
6.8.1 洛伦兹校正
6.8.2 偏振校正
6.8.3 空气散射和铍窗吸收校正
6.8.4 样品吸收校正
6.8.5 强度校正组合
参考文献
第7章 物相鉴定
7.1 引言
7.2 相对强度
7.2.1 多重性因子
7.2.2 电子和原子散射
7.2.3 结构因子
7.2.4 衰减因子
7.3 衍射几何和分辨率
7.3.1 探测器距离和分辨率
7.3.2 散焦效应
7.3.3 透射模式衍射
7.4 采样统计性
7.4.1 有效采样体积
7.4.2 角窗
7.4.3 虚拟摆动
7.4.4 样品摆动
7.5 择优取向效应
7.5.1 有织构时的相对强度
7.5.2 纤维织构的强度校