基于状态特征的质量控制方法

本书从装备研制过程的状态特征出发，按照过程监控、能力评价与试验设计的主线，系统探讨基于状态特征的质量控制方法。首先，概述了装备研制"三边"状态下的主要质量管理问题，简述了基于状态特征的质量控制方法；其次，提出了基于平均报警时间(TBE)的控制图设计方法，具体包括参数化TBE控制图、参数化联合监控TBE控制图和非参数联合监控TBE控制图等；再次，阐述了面向非正态质量特性的过程能力分析方法，包括基于逆变换和优选密度区域的非正态过程能力分析方法以及基于供货产品截断质量数据的过程能力分析方法；最后，针对多响应多因子的工艺优化试验，系统介绍了基于D-很优理论的试验设计方法和基于广义线性模型的稳健参数设计方法，并给出具体应用案例。本书可供从事质量工作的工程技术人员参考使用，也可作为普通高校相关专业本科生和研究生的参考书。

前言
第1章绪论1
1.1装备研制“三边”状态下的质量管理问题1
1.2基于状态特征的质量控制方法概述2
1.3本书的结构安排4
第2章基于平均报警时间的控制图设计方法6
2.1基于平均报警时间(ATS)的指数控制图6
2.1.1参数已知的ATS无偏指数控制图7
2.1.2参数未知时ATS无偏指数控制图11
2.1.3案例分析18
2.2基于平均报警时间(ATS)的伽玛控制图20
2.2.1伽玛控制图监控统计量20
2.2.2参数已知时ATS无偏设计 22
2.2.3带参数估计的ATS无偏伽玛控制图的性能表现24
2.2.4参数未知时的ATS无偏伽玛控制图设计26
2.2.5案例分析35
2.3双参数指数分布联合监控控制图 37
2.3.1MLE-Max监控统计量38
2.3.2基于似然比(LR)的监控统计量39
2.3.3基于MLE-Max和LR的CUSUM控制图设计 39
2.3.4控制限的计算与性能分析42
2.3.5案例分析49
2.4非参数联合监控TBE控制图设计51
2.4.1JK统计量和Mathur统计量52
2.4.2EWMA-JK控制图和EWMA-Mathur控制图设计 54
2.4.3控制限的计算和性能分析55
2.4.4案例分析82
参考文献83
第3章面向非正态质量特性的过程能力分析方法89
3.1基于正态逆变换的非正态过程能力分析 89
3.1.1逆正态转换方法90
3.1.2简化逆正态变换方法 91
3.1.3性能比较91
3.1.4案例分析101
3.2基于优选密度区域的过程能力指数102
3.2.1优选密度区域理论102
3.2.2一元过程能力指数103
3.2.3多元过程能力指数107
3.2.4案例分析107
3.3基于供货产品截断数据的过程能力分析109
3.3.1供货产品质量数据的截断特性 110
3.3.2QA-EM填充算法 111
3.3.3QA-EM填充算法的性质分析116
3.3.4基于拟接近样本的Cpk置信下限估计119
3.3.5案例分析125
参考文献126
第4章面向多响应多因子的试验设计方法129
4.1D-很优试验设计简介129
4.1.1D-很优设计的基本理论129
4.1.2D-很优设计的特点和衡量准则 131
4.1.3高维D-很优设计的算法132
4.1.4应用案例134
4.2逐批添加的D-很优试验设计 142
4.2.1逐批添加D-很优试验设计方法143
4.2.2逐批添加D-很优设计的设计节点确定方法144
4.2.3很好试验次数和模型确定方法 145
4.2.4应用案例147
4.3基于D-很优设计的田口试验设计 153
4.3.1田口设计简介 153
4.3.2基于经验分布函数等分位点的外表设计154
4.3.3基于D-很优设计的内表设计156
4.3.4基于灵敏度分析的很好参数设计方案确定156
4.3.5应用案例157
4.4基于GLM的多质量特性稳健参数设计162
4.4.1广义线性模型(GLM)简介164
4.4.2基于GLM的多质量特性建模 167
4.4.3基于GLM的多质量特性稳健优化169
4.4.4应用案例172
参考文献181