材料科学研究与测试方法(第4版)

《材料科学研究与测试方法（第4版）》首先介绍了晶体学基础知识，然后系统介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体x射线衍射分析的方法、X射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析、小角X射线散射、薄膜应力及厚度测定等方面的应用；介绍了电子衍射的物理基础、透射电子显微镜的结构与原理、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术、扫描电镜、扫描透射电镜、电子背散射衍射及原子探针等；介绍了AES、XPS、XRF、STM、AFM、LEED等常用表面分析技术和TG、DTA、DSC等常用热分析技术的原理、特点及其应用；后简要介绍了红外光谱、拉曼光谱和ICP等。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料等。对每章内容作了提纲式的小结，并附有适量的思考题。书中采用了一些作者尚未发表的图片和曲线，同时在实例分析中还注重引入了一些当前材料界新的研究成果。
《材料科学研究与测试方法（第4版）》可作为材料科学与工程学科本科生的学习用书，也可供相关学科与专业的研究生、教师和科技工作者使用。

1晶体学基础
1.1 晶体及其基本性质
1.1.1 晶体的概念
1.1.2 空间点阵的四要素
1.1.3 布拉菲阵胞
1.1.4 典型晶体结构
1.1.5 晶体的基本性质
1.1.6 准晶体简介
1.2 晶向、晶面及晶带
1.2.1 晶向及其表征
1.2.2 晶面及其表征
1.2.3 晶带及其表征
1.3 晶体的宏观对称及点群
1.3.1 对称的概念
1.3.2 对称元素及对称操作
1.3.3 对称元素的组合及点群
1.3.4 晶体的分类
1.3.5 准晶体的点群及其分类
1.3.6 点群的国际符号
1.3.7 点群的圣佛利斯符号
1.4 晶体的微观对称与空间群
1.4.1 晶体的微观对称
1.4.2 晶体的空间群及其符号
1.5 晶体的投影
1.5.1 球面投影
1.5.2 极式网与乌氏网
1.5.3 晶带的极射赤面投影
1.5.4 标准极射赤面投影图(标准投影极图或标准极图)
1.6 倒易点阵
1.6.1 正点阵
1.6.2 倒点阵(倒易点阵)
1.6.3 正倒空间之间的关系
1.6.4 倒易矢量的基本性质
1.6.5 晶带定律
1.6.6 广义晶带定律
本章小结
思考题
2 X射线的物理基础
2.1 X射线的发展史
2.2 X射线的性质
2.2.1 X射线的产生
2.2.2 X射线的本质
2.3 x射线谱
2.3.1 X射线连续谱
2.3.2 X射线特征谱
2.4 x射线与物质的相互作用
2.4.1 X射线的散射
2.4.2 X射线的吸收
2.4.3 吸收限的作用
本章小结
思考题
3 X射线的衍射原理
3.1 X射线衍射的方向
3.1.1 劳埃方程
3.1.2 布拉格方程
3.1.3 布拉格方程的讨论
3.1.4 衍射矢量方程
3.1.5 布拉格方程的厄瓦尔德图解
3.1.6 布拉格方程的应用
3.1.7 常见的衍射方法
3.2 X射线的衍射强度
3.2.1 单电子对X射线的散射
3.2.2 单原子对X射线的散射
3.2.3 单胞对X射线的散射
3.2.4 单晶体的散射强度与干涉函数
3.2.5 单相多晶体的衍射强度
3.2.6 影响单相多晶体衍射强度的其他因子
本章小结
思考题
4 X射线的多晶衍射分析及其应用
4.1 X射线衍射仪
……
5电子显微分析的基础
6透射电子显微镜
7薄晶体的高分辨像
8扫描电子显微镜及电子探针
9表面分析技术
10热分析技术
11电子背散射衍射
12原子探针显微分析
13光谱分析
附录
参考文献