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数字电路测试技术

数字电路测试技术

  • 字数: 116000
  • 装帧: 平装
  • 出版社: 中国电力出版社
  • 作者: 李志勇,李小颖主编;蔡灏[等]编写
  • 出版日期: 2023-05-26
  • 商品条码: 9787519826819
  • 版次: 1
  • 开本: 16开
  • 页数: 72
  • 出版年份: 2023
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精选
内容简介
本书为“十三五”普通高等教育规划教材,与《模拟电路测试技术》配套使用。本书以实验为主线,共分为2部分17个实验项目,以适应不同专业、不同层次学生的实验教学要求。主要内容安排如下:第1部分为数字电路测试实验基础知识,内容包括集成电路外引线识别、数字电路中逻辑信号的高低电平、数字电路常用逻辑符号及集成电路命名法;第2部分为数字电路测试技术实验,内容包括TTL集成逻辑门功能与参数测试、组合逻辑设计、时基电路波形产生与整形、智力竞赛抢答装置等。
目录
前言
第1部分数字电路测试实验基础知识
1.1集成电路外引线识别
1.2数字电路中逻辑信号的高低电平范围
1.3数字电路常用逻辑符号及集成电路命名法
第2部分数字电路测试技术实验
实验1TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验2组合逻辑电路(一)
实验3组合逻辑电路(二)
实验4触发器及其应用
实验5触发器构成的异步计数器及其应用
实验6中规模集成计数器的应用
实验7移位寄存器及其应用
实验8时基电路的波形产生与整形
实验9脉冲分配器及其应用
实验10使用门电路产生脉冲信号
实验11555定时器的应用
实验12声光控延时灯设计
实验13智力竞赛抢答装置改进
实验14电子秒表调试
实验15人体反应速度测试器设计
实验16用555定时器组成函数发生器
实验17汽车尾灯控制电路设计
附录常用集成电路引脚图
参考文献

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