您好,欢迎来到聚文网。
登录
免费注册
网站首页
|
搜索
热搜:
磁力片
|
漫画
|
购物车
0
我的订单
商品分类
首页
幼儿
文学
社科
教辅
生活
销量榜
军用嵌入式计算机全生命周期可靠性设计保证技术
字数: 286千字
装帧: 精装
出版社: 中国宇航出版社
作者: 柴波
出版日期: 2018-03-01
商品条码: 9787515914565
版次: 1
开本: 16开
页数: 170
出版年份: 2018
定价:
¥98
销售价:
登录后查看价格
¥{{selectedSku?.salePrice}}
库存:
{{selectedSku?.stock}}
库存充足
{{item.title}}:
{{its.name}}
加入购物车
立即购买
加入书单
收藏
精选
¥5.83
世界图书名著昆虫记绿野仙踪木偶奇遇记儿童书籍彩图注音版
¥5.39
正版世界名著文学小说名家名译中学生课外阅读书籍图书批发 70册
¥8.58
简笔画10000例加厚版2-6岁幼儿童涂色本涂鸦本绘画本填色书正版
¥5.83
世界文学名著全49册中小学生青少年课外书籍文学小说批发正版
¥4.95
全优冲刺100分测试卷一二三四五六年级上下册语文数学英语模拟卷
¥8.69
父与子彩图注音完整版小学生图书批发儿童课外阅读书籍正版1册
¥24.2
好玩的洞洞拉拉书0-3岁宝宝早教益智游戏书机关立体翻翻书4册
¥7.15
幼儿认字识字大王3000字幼儿园中班大班学前班宝宝早教启蒙书
¥11.55
用思维导图读懂儿童心理学培养情绪管理与性格培养故事指导书
¥19.8
少年读漫画鬼谷子全6册在漫画中学国学小学生课外阅读书籍正版
¥64
科学真好玩
¥12.7
一年级下4册·读读童谣和儿歌
¥38.4
原生态新生代(传统木版年画的当代传承国际研讨会论文集)
¥11.14
法国经典中篇小说
¥11.32
上海的狐步舞--穆时英(中国现代文学馆馆藏初版本经典)
¥21.56
猫的摇篮(精)
¥30.72
幼儿园特色课程实施方案/幼儿园生命成长启蒙教育课程丛书
¥24.94
旧时风物(精)
¥12.04
三希堂三帖/墨林珍赏
¥6.88
寒山子庞居士诗帖/墨林珍赏
¥6.88
苕溪帖/墨林珍赏
¥6.88
楷书王维诗卷/墨林珍赏
¥9.46
兰亭序/墨林珍赏
¥7.74
祭侄文稿/墨林珍赏
¥7.74
蜀素帖/墨林珍赏
¥12.04
真草千字文/墨林珍赏
¥114.4
进宴仪轨(精)/中国古代舞乐域外图书
¥24.94
舞蹈音乐的基础理论与应用
内容简介
《军用嵌入式计算机全生命周期可靠性设计保证技术/中国航天技术进展丛书》是一部系统介绍军用嵌入式计算机全生命周期可靠性设计保证技术的著作,从可靠性设计和保证角度全面介绍了工程人员如何保证军用嵌入式计算机在设计、生产、调试试验,交付使用、维护和延寿等全生命周期内的质量。
《军用嵌入式计算机全生命周期可靠性设计保证技术/中国航天技术进展丛书》共分11章,主要包括军用嵌入式计算机的概述、设计风险识别与控制、可靠性设计保证技术、复核复算技术、缺陷激发试验方法、系统环境适应性模拟验证、国产元器件替代验证技术,质量问题归零技术、贮存维护技术、整修延寿技术,以及试验与测试强度对军用嵌入式计算机的寿命影晌等相关内容。
《军用嵌入式计算机全生命周期可靠性设计保证技术/中国航天技术进展丛书》是对军用嵌入式计算机的理论研究与工程实践的总结,适用于从事相关技术领域的工程研制人员和管理人员,也可作为高等院校相关专业的参考教材。
目录
第1章军用嵌入式计算机概述
1.1引言
1.2军用嵌入式计算机的分类与用途
1.3军用嵌入式计算机的发展历程
1.3.1标准化历程
1.3.2国产化历程
1.4在役型号军用嵌入式计算机面临的问题
1.4.1元器件停产断档问题
1.4.2核心器件禁运问题
1.4.3整机性能退化问题
1.4.4国产化替代问题
1.4.5寿命延长需求问题
1.5军用嵌入式计算机基本特征
1.5.1嵌入式特性
1.5.2器件依赖性
1.5.3软件支撑性
1.5.4环境适应性
1.5.5长期贮存性
第2章军用嵌入式计算机设计风险识别与控制
2.1军用嵌入式计算机的风险特征
2.2军用嵌入式计算机的风险类别构成
2.3军用嵌入式计算机设计风险的识别与控制
2.3.1设计风险的识别与控制基本要求
2.3.2设计风险的识别与控制基本方法
2.3.3不同设计风险层次的主要风险因素分析
2.4制造风险的识别与控制基本要求
2.5军用嵌入式计算机最典型的风险因素
2.5.1新技术新产品
2.5.2集成化散热能力
2.5.3国产元器件验证
2.5.4环境适应性验证
2.6关于SOC器件应用风险的应对措施
2.6.1SOC特性分析
2.6.2SOC应用的综合保证措施
2.6.3小结
2.7嵌入式计算机长期贮存的潜在风险分析
2.7.1目的和意义
2.7.2试验件状态信息
2.7.3试验件性能与环境适应性综合验证分析
2.7.4试验产品开盖工艺检查
2.7.5试验件产品印制板材及工艺分析
2.7.6试验件产品元器件性能参数变化分析
2.7.7综合分析结论
第3章可靠性设计保证技术
3.1军用嵌入式计算机的构成与设计内容
3.1.1军用嵌入式计算机的构成
3.1.2军用嵌入式计算机的设计内容
3.2不同研制阶段应重点考虑的问题
3.2.1方案(模样)阶段
3.2.2初样阶段
3.2.3正(试)样阶段
3.2.4定型批生产阶段
3.3军用嵌入式计算机的可靠性_T程设计注意事项.
3.3.1结构设计
3.3.2整机热设计
3.3.3电源设计
3.3.4逻辑设计
3.3.5可编程逻辑设计
3.3.6软件设计
3.3.7可测试性设计
3.3.8元器件选用设计
3.3.9工艺保障性设计
3.3.10电磁兼容性设计
3.4军用嵌入式计算机降额设计中应注意的问题
3.4.1型号产品降额设计的基本内容
3.4.2型号产品降额设计中存在的问题
3.4.3降额设计应注意的事项
3.4.4具体参数降额设计中应注意的问题
3.5弹载串行通信接口可靠性设计
3.5.1设计准则
3.5.2设计方法
3.5.3接口设计注意事项
3.5.4系统常见问题分析及处理
3.6塑封低等级器件在军用嵌入式计算机中的应用技术
3.6.1塑封器件的特性分析
3.6.2全生命周期中影响塑封器件寿命与可靠性的因素分析
3.6.3提高军用电子产品塑封器件贮存可靠性的保证措施
3.6.4小结
3.7电容选用可靠性问题
3.7.1电容器失效因素分析
3.7.2电容器选用设计及操作要求
3.8军用嵌入式计算机调试及试验注意事项
3.8.1控制测试设备状态
3.8.2固化测试项目
3.8.3规范测试记录
3.8.4改进调试工艺
3.8.5调试与试验过程控制
3.8.6完善试验方法
3.8.7电磁兼容试验中常见问题分析
3.9军用小型化国产计算机调试试验技术
3.9.1小型化产品的基本特点
3.9.2调试重点
3.9.3试验重点
第4章军用嵌入式计算机复核复算技术
4.1目的和适用范围
4.2规范性引用文件
4.2.1术语和定义
4.2.2复核复算的内容及时机
4.2.3复核复算内容方法及报告编写的基本要求
4.2.4复核复算会议资料的准备要求
4.2.5复核复算会议专家组成要求
4.2.6复核复算评审会的要求
第5章军用嵌入式计算机缺陷激发试验方法
5.1试验目的
5.2被试产品状态和数量要求
5.3试验项目和方法
5.3.1温度步进应力试验
5.3.2振动量级步进应力试验
5.3.3综合应力试验
5.4试验停止的基本要求
5.5试验数据的记录与处理要求
5.6故障判别准则和故障处理
第6章军用嵌入式计算机系统环境适应性模拟验证
6.1建设军用嵌入式计算机系统环境适应性模拟验证系统的必要性
6.2产品存在的系统环境适应性问题
6.3模拟环境系统方案构造
6.4系统模拟验证功能
6.4.1系统电源特性模拟
6.4.2系统总线特性模拟
6.4.3系统环境等效模拟
6.5系统模拟验证测试项目
第7章国产元器件替代验证技术
7.1国产元器件验证的必要性
7.2国产化替代元器件选用原则
7.3国产化替代验证项目
7.4国产化替代验证方法
7.4.1元器件级替代验证程序及方法
7.4.2整机级替代验证方法
7.4.3系统级替代验证
7.5验证结论确定
第8章军用嵌入式计算机技术质量问题归零技术
8.1质量问题发生的类型
8.2质量技术问题归零的效果
8.3归零的基础含义
8.4归零的科学性
8.5型号归零的方法要求
8.5.1技术归零
8.5.2管理归零
8.6技术归零报告的编写
第9章军用嵌入式计算机贮存维护技术
9.1军用嵌入式计算机产品贮存可靠性影响因素构造模型
9.2军用嵌入式计算机产品贮存维护技术
9.3导弹武器型号贮存过程中加电测试对计算机产品的影响分析
9.3.1常用元器件失效机理分析
9.3.2各类元器件的贮存退化趋势影响分析
9.3.3电应力对典型元器件失效模式产生的影响分析
9.3.4现有型号计算机产品贮存条件下加电间隔能力调查
9.3.5综合分析
第10章军用嵌入式计算机整修延寿技术
10.1整修技术
10.1.1整修方案
10.1.2整修工作实施
10.1.3整修试验考核
10.2延寿技术
10.2.1延寿方案
10.2.2延寿工作实施
10.2.3整修延寿数据记录
10.2.4整修延寿结果评定
10.2.5整修延寿工作总结评审
10.3加速寿命试验对产品功能性能的影响性分析
10.3.1对产品减振器性能的影响
10.3.2对产品外连接器的性能影响
10.3.3对光电耦合器性能的影响
第11章试验与测试强度对军用嵌入式计算机的寿命影响
11.1试验强度对整机产品的寿命影响
11.1.1元器件的测试筛选试验
11.1.2整机产品的温度循环试验
11.1.3整机产品的振动试验
11.2测试强度对整机特殊器件寿命的影响
11.2.1擦写次数有的存储器寿命影响
11.2.2电磁继电器寿命的影响
11.2.3特殊接口器件寿命的影响
11.2.4特制灌封模块寿命的影响
11.3接插件对整机产品寿命的影响
11.4X光照射及强磁环境对计算机产品功能、性能的影响
11.5综合影响分析
参考文献
后记
×
Close
添加到书单
加载中...
点此新建书单
×
Close
新建书单
标题:
简介:
蜀ICP备2024047804号
Copyright 版权所有 © jvwen.com 聚文网