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Johnston头影测量技术图解手册

Johnston头影测量技术图解手册

  • 字数: 378000
  • 装帧: 精装
  • 出版社: 北京大学医学出版社
  • 作者: (美)约翰斯顿(Lysle E.Johnston),许天民,滕起民 主编
  • 出版日期: 2018-05-01
  • 商品条码: 9787565917875
  • 版次: 2
  • 开本: 16开
  • 页数: 196
  • 出版年份: 2018
定价:¥198 销售价:登录后查看价格  ¥{{selectedSku?.salePrice}} 
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精选
内容简介
头影测量是正畸学临床证据的主要来源,它是综合运用放射解剖学、描图及数字化、计算机技术,描记颅颌面软硬组织的位置关系,从而为制定正畸计划提供依据。本书详细介绍了头影测量技术在正畸治疗中应用。本书靠前版2011年出版后受到读者的欢迎。第2版增加了许多新的知识和技术、图片更加丰富,使本手册更加实用。
目录
第一章头影测量的起源
第二章当代X线头影测量学
第一节常规和几何概念
第二节放射解剖学
第三节描图与数字化
第四节常见的解剖关系
第五节基本平面与基本直线
第六节常见的修饰性与解剖性描图误差
第七节如何画牙齿
第三章头影测量分析
第一节描述形态
第二节制订治疗计划(Tweed,Steiner,RickettsVTO等分析方法)
第三节测量治疗前后变化(治疗、复发、正常生长等)
第四章"草耙"分析法
第五章模板分析

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