您好,欢迎来到聚文网。 登录 免费注册
CEI测量技术原理、系统设计与应用

CEI测量技术原理、系统设计与应用

  • 字数: 203000
  • 装帧: 精装
  • 出版社: 清华大学出版社
  • 作者: 黄磊 等
  • 出版日期: 2024-05-01
  • 商品条码: 9787302660675
  • 版次: 1
  • 开本: 16开
  • 页数: 184
  • 出版年份: 2024
定价:¥99 销售价:登录后查看价格  ¥{{selectedSku?.salePrice}} 
库存: {{selectedSku?.stock}} 库存充足
{{item.title}}:
{{its.name}}
精选
内容简介
CEI(connected element interferometry,连线干涉测量,也可称为“短基线干涉测量”)技术是干涉测量技术的一种,其基线长度一般为几十千米; 其通过对载波相时延的测量,进而实时获得目标相对于基线矢量的准确角位置,可适用于中高轨卫星的高精度测定轨及相对定位。
本书重点介绍了CEI技术的基本原理,CEI系统的设计构建,实现CEI所突破的关键技术,以及CEI技术的工程应用实例;内容丰富全面,理论与实践并重。本书有助于从事航天测控工作的技术人员系统掌握和了解CEI技术的工作原理及CEI系统实现方法,具有较高的参考价值。
目录
第1章概述
1.1干涉测量技术
1.2干涉测量技术在导航中的应用历程
1.3CEI测量技术
参考文献
第2章CEI测量基本原理
2.1千涉测量基本原理
2.2CEI测量基本原理
2.3CEI测量时延协方差分析
2.3.1协方差分析的原理
2.3.2CEI测量模型和信息矩阵
2.3.3测距和测速测量模型与联合信息矩阵
参考文献
第3章CEI干涉测量系统设计
3.1概述
3.2天伺馈分系统
3.2.1设备组成和工作原理
……

蜀ICP备2024047804号

Copyright 版权所有 © jvwen.com 聚文网