微光像增强器测试技术

本书是一部论述微光像增强器测试技术的专著，是作者承担国家科研项目的总结。 全书共 9 章，介绍微光像增强器测试技术理论和技术的基础研究，包含热电子面发射源、积分球漫反射均匀性、真空系统设计的研究; 系统阐述像增强器零部件测试技术, 包含微通道板 MCP、 荧光屏的参数测试研究; 介绍了微光像增强器噪声因子、噪声特性测试的关键技术及研制设备; 介绍微光像增强器信噪比、分辨力、亮度增益的测试原理及测试设备的研制；介绍了紫外成像系统关键参数的测试技术及设备的研制; 最后针对低照度CMOS器件展开了夜视手持式、头盔式的应用研究，给出原理样机。本书可作为高职院校和本科院校光学工程、电子科学与技术和光信息科学与技术等专业的教学用书，可供从事微光器件设计与应用的有关科技人员参考。

邱亚峰，男，1966年生，工学博士、副教授，硕士生导师。承担了“工程制图”“工程图形学”“化工制图”“土木工程制图”的本科生基础课授课任务，以及本科生通识选修课生课程“计算机二维绘图及实体造型”的授课任务。指导本科毕业设计26人，指导研究生29人。2019年参与英文版“工程制图”教材的编写工作。目前该书正在出版中。主要研究机械电子工程及电子科学与技术领域，从事电子科学与技术、微光、红外图像处理、真空测试设备、伺服电机控制等光、机、电交汇领域的科研研究工作，先后参加国家自然资金、973、瓶颈等重大科研项目。以第二负责人参加课题组973子课题、国防技术基础等项目，以第一负责人身份主持18项科研项目，先后在中国兵器205所、208所、559厂、微光国防重点实验室、航天科工晨光集团、航天科技航天八院等单位取得科研合同。

第1章 测试基础 1.1 热电子面发射源的研究 1.1.1 热电子面发射源的理论分析 1.1.2 热电子面发射源电场分布和电子轨迹计算 1.2 热电子面发射源的结构设计 1.3 热电子面发射源调试试验 1.3.1 热电子面发射源的性能试验及分析 1.3.2 热电子面发射源与其他热电子发射源的比较 1.4 新型热电子面发射源的研究 1.4.1 传统热电子面发射源与新型热电子面发射源分析 1.4.2 新型热电子面发射源测试试验 1.4.3 已设计的热电子面发射源样机 1.5 漫反射原理及积分球的研究 1.5.1 漫反射原理及漫反射材料性质 1.5.2 理想积分球研究 1.5.3 积分球出光孔照度衰减的研究 1.5.4 积分球出光孔照度标定方法的研究 1.5.5 积分球设计 1.6 真空系统的调试与测试试验 1.6.1 真空系统的烘烤除气处理与真空度调试 1.6.2 真空系统的漏率测试计算 1.6.3 真空系统空／负载性能研究 第2章 像增强器零部件测试技术 2.1 MCP电子清刷测试理论研究 2.1.1 MCP的工作原理 2.1.2 MCP电子清刷测试理论 2.2 电子清刷测试系统的性能指标与总体方案设计 2.2.1 系统的设计要求与性能指标 2.2.2 系统方案总体设计 2.3 MCP电阻与增益的测试及结果分析 2.3.1 高温烘烤对MCP体电阻的影响测试研究 2.3.2 电子清刷对MCP增益的影响测试研究 2.4 荧光屏发光特性研究 2.4.1 固体发光及表征发光特性的物理量 2.4.2 阴极射线致发光 2.5 像增强器荧光屏综合参数测试系统的研究 2.5.1 荧光屏综合参数测试系统的设计理论 2.5.2 荧光屏综合参数测试系统的测试原理 2.5.3 荧光屏综合参数测试系统的理论设计 2.5.4 表征荧光屏性能的主要参数的定义及测试方法 2.6 荧光屏4种参数测试的结构设计及保障 2.6.1 荧光屏均匀性和发光亮度测试的结构设计及保障 2.6.2 荧光屏发光效率测试的结构设计及保障 2.6.3 荧光屏发光余辉测试的结构设计及保障 2.7 荧光屏综合参数测试系统总成 2.7.1 荧光屏综合参数测试系统的组成 2.7.2 荧光屏综合参数测试系统的控制模块 2.7.3 荧光屏综合参数测试系统性能指标 第3章 像增强器噪声因子测试技术 3.1 微光像增强器噪声因子理论