数字射线检测技术(第3版无损检测人员取证培训教材)

《射线数字检测技术》内容包括概述、辐射探测器与其他器件、数字射线检测基本理论、数字射线检测基本技术、工业常用数字射线检测系统、等价性问题、实验及附录。经过本次修订，本书在内容上构成了一个基本完整的数字射线检测技术知识系统，形成了比较清楚的Ⅱ级人员与Ⅲ级人员要求的区分界定。

前言 第1章概述 1.1数字射线检测技术的发展概况 1.2数字射线检测技术与胶片射线检测技术的区别 1.3数字射线检测技术基本理论 1.4等价性问题 1.5数字射线检测技术标准 复习题 第2章辐射探测器与其他器件 2.1辐射探测器概述 2.1.1辐射探测器的类型（*） *2.1.2辐射探测器的一般特性 2.1.3辐射探测器系统 2.2辐射探测器系统的基本性能 2.3分立辐射探测器（DDA） 2.3.1非晶硅辐射探测器（*） 2.3.2非晶硒辐射探测器 2.3.3CCD或CMOS辐射探测器 2.3.4分立辐射探测器的性能（*） 2.4成像板系统（IP板系统） 2.4.1IP板（*） *2.4.2IP板的主要特性 2.4.3IP板系统的基本性能（*） *2.5图像增强器系统 *2.5.1图像增强器的基本结构 *2.5.2图像增强器系统的探测过程 *2.5.3图像增强器系统的主要性能 2.6A/D转换器 2.7射线检测的像质计与线对卡 2.7.1像质计概述 2.7.2常规像质计 2.7.3双丝型像质计（*） *2.74线对卡 复习题 第3章数字射线检测基本理论 3.1数字图像概念 3.1.1数字图像的基本概念 3.1.2数字图像的空间频率 **3.1.3灰度 *3.1.4数字图像文件格式 3.2图像数字化基本理论 3.2.1图像数字化过程 3.2.2采样定理（*） *3.2.3量化位数 3.3数字射线检测图像质量 3.3.1检测图像对比度 3.3.2检测图像空间分辨力（*） 3.3.3检测图像信噪比（*） 3.4检测图像与细节识别和分辨 3.4.1检测图像与细节识别的关系（*） 3.4.2检测图像与细节分辨的关系（*） **3.5细节可识别性理论关系式 复习题 第4章数字射线检测基本技术 4.1概述 4.2探测器系统选择 4.2.1探测器系统概述 4.2.2探测器系统基本空间分辨力选择 4.2.3规格化信噪比选择 4.3数字射线检测透照技术 4.3.1透照技术控制概述 4.3.2最佳放大倍数（*） 4.3.3源到工件表面的距离（*） 4.3.4曝光曲线（*） 4.4图像数字化参数控制 4.5检测图像显示与缺陷评定技术 4.5.1图像显示与观察条件（*） 4.5.2图像观察识别技术 4.5.3缺陷识别与质量级别评定 4.5.4尺寸测量（*） **4.5.5厚度测定 4.6数字射线检测图像质量控制 4.6.1检测图像质量参数控制 4.6.2图像质量的补偿规则（*） *4.7数字射线检测技术级别近似设计 *4.7.1技术级别设计概述 *4.7.2检测图像常规像质计指标近似设计 *4.7.3检测图像不清晰度（空间分辨力）指标设计 *4.7.4例题 4.8数字射线检测技术稳定性控制 4.8.1检测工艺文件（检测程序文件） 4.8.2检测系统性能的长期稳定性试验控制 4.8.3检测工艺卡编制 复习题 第5章工业常用数字射线检测系统 5.1概述 5.2DR系统 5.2.1DR系统组成 5.2.2DR系统技术控制（*） 5.2.3探测器响应校正与坏像素修正（*） 5.2.4DR系统应用特点 5.3CR系统 5.3.1CR系统检测基本过程 5.3.2CR系统技术控制 5.3.3CR系统应用 *5.4图像增强器数字射线检测系统 **5.5微焦点数字射线检测系统 **5.6底片图像数字化扫描技术 **5.6.1扫描仪概述 **5.6.2扫描仪的基本性能指标 **5.6.3扫描技术 **5.6.4扫描仪选用 复习题 第6章等价性问题 6.1等价性问题概述 6.2等价技术级别评定 6.2.1等价技术级别评定概述 *6.2.2胶片射线照相检测技术的检测图像质量指标分析 *6.2.3等价技术级别评定过程 *6.2.4等价技术级别评定例题 **6.3等价性问题的理论处理方法 复习题 第7章实验 实验1DDA基本空间分辨力测定 实验2DDA规格化信噪比与曝光量平方根关系曲线测定 实验3DDA像素尺寸对缺陷检测的影响 实验4IP板图像读出扫描点尺寸对缺陷检测的影响 实验5曝光量对检测图像质量的影响 实验6最佳放大倍数试验 实验7曝光曲线制作 实验8图像软件使用 实验9DDA数字射线检测系统使用 实验10CR数字射线检测系统使用 附录 附录A辐射探测器的基础性知识 附录B采样定理说明 附录C数字图像增强处理技术简介 附录D动态数字射线检测技术 附录E射线检测技术系统的调制传递函数 附录F复习参考题答案 参考文献