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模拟/混合信号集成电路抗辐照技术与实践(2021材料基金)
字数: 362
出版社: 哈尔滨工业大学
作者: 编者:黄晓宗//李儒章//付东兵//吴雪|责编:马静怡//周轩毅
商品条码: 9787576705454
版次: 1
开本: 16开
页数: 289
出版年份: 2023
印次: 1
定价:
¥108
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舞蹈音乐的基础理论与应用
内容简介
本书系统地介绍了辐射 对电子系统的损伤机理、加 固技术和实践、辐射测试技 术等研究内容,并阐述了抗 辐射加固技术的发展趋势。 第1章和第2章介绍了辐射环 境与基本辐射效应、半导体 器件的辐射效应损伤机理, 并介绍了SiGe HBT BiCMOS 工艺的辐射特性;第3~5章 介绍了从工艺、版图和电路 等方面进行抗辐射加固的技 术;第6章针对模拟/混合 信号集成电路加固技术的案 例进行了研究;第7章和第8 章介绍了模拟/混合信号集 成电路辐射测试技术和抗辐 射加固发展趋势。 本书适合研究辐射效应 与抗辐射加固技术的相关专 业本科生和研究生使用,也 可供相关工程技术人员和科 研人员学习、参考。
目录
第1章 辐射环境与基本辐射效应 1.1 空间辐射环境 1.2 基本辐射效应 本章参考文献 第2章 半导体器件的辐射效应损伤机理 2.1 总剂量效应对半导体器件的损伤机理 2.2 单粒子效应对集成电路的损伤机理 2.3 CMOS工艺辐射效应机理 2.4 SiGe HBT BiCMOS工艺 本章参考文献 第3章 工艺抗辐射加固技术 3.1 CMOS工艺衬底选择 3.2 CMOS工艺氧化工序 3.3 CMOS三阱工艺 3.4 CMOS工艺尺寸对抗辐射性能的影响 3.5 双极工艺优化技术 本章参考文献 第4章 版图抗辐射加固技术 4.1 环栅晶体管 4.2 单粒子闩锁版图加固 4.3 SiGe HBT版图加固 本章参考文献 第5章 电路抗辐射加固技术 5.1 模拟电路加固技术 5.2 数字电路加固技术 5.3 系统级加固技术 本章参考文献 第6章 模拟/混合信号集成电路加固技术实践研究 6.1 单粒子效应的仿真及建模技术 6.2 总剂量效应的仿真及建模技术 6.3 辐射加固标准数字单元库的开发设计 6.4 带隙基准源加固设计 6.5 放大器与比较器加固设计 6.6 锁相环加固设计 6.7 模拟开关加固设计 6.8 A/D、D/A转换器的加固设计 本章参考文献 第7章 模拟/混合信号集成电路辐射测试技术 7.1 模拟/混合信号电路测试系统 7.2 总剂量测试 7.3 单粒子辐射测试 本章参考文献 第8章 模拟/混合信号集成电路抗辐射加固发展趋势 8.1 需求分析 8.2 现状分析 8.3 发展趋势及挑战 本章参考文献 名词索引 附录 部分彩图
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